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Présentation

Service Analyse XPS

Localisation
- Implanté dans la partie université du laboratoire (Bât. TPR1, entrée G, 5é étage, salle 521), ce service commun, permet l’analyse d’échantillons par Spectroscopie de Photoélectrons sous rayons X.

Principe d’analyse
- Cette technique permet d’abord et principalement la caractérisation des éléments chimiques à la surface d’un échantillon. Un traitement plus fin des spectres permet l’accès à l’environnement physico-chimique des atomes de surface et aux liaisons chimiques formées en quantifiant la part de leur contribution dans les pics détectés. Il est possible d’effectuer des quantifications à partir de mesures d’échantillons références.

La profondeur d’analyse est de l’ordre de 10nm. La quantité minimale détectée est de l’ordre du centième de monocouche.

Appareillage
- L’instrument utilisé est un analyseur XPS hémisphérique du type HA150 de la firme VSW dont la résolution optimale est de l’ordre de 0,5eV. La détection est faite par un détecteur multicanaux à 16 voix.

- La source principale de rayons X utilisée est une anode Mg (Kα) de 1253,6eV d’énergie.

Echantillons
- La taille des échantillons doit être comprise dans une surface équivalente à un carré d’environ 5 à 15mm de côté. Ces échantillons doivent être compatibles avec l’ultravide.



Les membres du service
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